近期，工业和信息化部电子第五研究所从上海坤道信息技术有限公司引进半导体热特性测试仪T3Ster。电子五所的工程师通过长达一年的精心调研，在对各测试设备的测试原理、测试过程以及测试结果进行严格对比之后，最终选择了T3Ster热测试仪。电子5所的技术专家表示，最终选择T3Ster，是由于T3Ster采用了先进的实时静态测试方法(static mode)， 完全满足JEDEC JESD51-1、IEC、美军标等国际标准，并制定了基于T3Ster核心技术的结壳热阻测试标准。T3Ster提供的瞬态热学测试技术不仅能够准确测试器件的结温、热阻值，还能分析器件内部的封装结构。电子5所表示后续将使用T3Ster测试BJT、MOSFET、 IGBT以及二极管等基础功率元器件的标准结温和热阻值，并进一步利用T3Ster先进的结构函数功能进行器件的可靠性研究和封装缺陷分析，构建待测器件的等效热学模型等。

        工业和信息化部电子第五研究所（中国电子产品可靠性与环境试验研究所，英文缩写CEPREI），始建于1955年，是中国最早从事可靠性研究的权威机构。 CESI以电子信息技术标准化工作为核心，通过开展标准科研、检测、计量、认证、信息服务等业务，面向政府提供政策研究、行业管理和战略决策的专业支撑，面向社会提供标准化技术服务。电子五所提供从元器件到整机设备、从硬件到软件直至复杂大系统的产品检测试验、分析评价、认证计量、信息服务、技术培训、专用设备和专用软件开发等技术服务。

        上海坤道公司凭借个性化的解决方案、成熟的产品线、专业的市场推广能力以及强有力的技术支持服务赢得了国内众多科研院所以及企业的一致认可。目前众多国防与航空航天研究机构、知名企业、大学以及中科院都已选择使用半导体热特性测试仪T3Ster作为其科研分析的主要工具，最终增强企业的核心竞争力，保证企业持续发展。

        关于T3Ster
        T3Ster作为世界领先的半导体热特性测试仪，运用JEDEC测试方法(JESD51-1)中先进的实时采样静态测试方法(Static Method)，广泛用于测试各类IC (包括二极管、三极管、MOSFET、SOC、SIP、MEMS等)、大功率LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。对于大功率半导体器件，T3ster可以用于半导体器件结温测量，半导体器件热阻和热容测量，半导体器件结构分析和半导体器件老化实验分析。
        T3Ster是全球唯一基于JEDEC “静态测试方法”（JESD51-1），实时采集器件瞬态温度响应曲线的仪器，其测试延迟时间（tMD）和分辨率均高达1μs。MicReD是JEDEC测量结壳热阻（θjc）标准（JESD51-14）的制定者，T3Ster是目前全球唯一满足此标准的仪器。T3Ster独创的结构函数 (Structure Function)分析法，能够分析器件热传导路径相关结构的热学性能，构建器件等效热学模型，是器件封装工艺、可靠性研究和测试的强大支持工具。因此被誉为热测试中的“X射线”。
        欲了解产品T3Ster的更多信息，请点击以下链接：http://www.simu-cad.com/product-436.aspx
 
        关于上海坤道公司
        上海坤道信息技术有限公司(SIMUCAD Info Tech Co., Ltd) 是一家专注于高端计算机辅助工程(CAE)软件和高科技仪器设备的提供商和方案咨询服务供应商，致力于为机械电子产品之研发、生产和制造提供先进完善的设计、分析、测试和制造解决方案以及成熟高效的技术支持和咨询服务。负责政府客户、国防与航空航天领域及高校（包括中科院）的业务部门的流体分析、热设计和热测试系列产品的销售和服务事宜。
        坤道公司的前身为Mentor Graphics 公司流体分析、热设计和热测试部门(原英国Flomerics公司中国代表处)负责政府客户、国防与航空航天领域及高校（包括中科院）的业务部门。目前是Mentor Graphics公司流体分析、热设计和热测试系列产品在中国大陆政府、国防与航空航天领域及高校（包括中科院）和国内中小企业客户的总代理，负责其产品的销售和服务事宜。同时，上海坤道公司还是美国C&R Technology公司Sinda/Fluint、Thermal-Desktop全系列产品、ATS公司全系列流体及热测量设备和SpaceRadiation Association公司SpaceRadiation软件在中国大陆的总代理。更详细的信息请参考 www.simu-cad.com