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     关于SanjSCOPETM热成像系统

    1、 SanjSCOPETM热成像系统主要采用基于lock-in手段的反射率热成像技术,结合数字信号处理手段以及先进的软件算法,为用户提供一个集高空间分辨率、高时间分辨率、高温度分辨率的,可以对亚微米级别的微电子系统进行热分析的通用工具。

    2、 亚微米量级的空间分辨率:SanjSCOPETM热成像系统可以达到300nm的高空间分辨率,更加适用于亚微米量级的器件的热成像。

    3、 极高的瞬态热成像时间分辨率:SanjSCOPETM热成像系统具有微秒级(MicroTherm)系列、纳秒级(NanoTherm)系列以及皮秒级PT(PicoTherm)系列,时间分辨率分别为50us,50ns以及800ps,可以满足不同层次的测试需求。

    4、 SanjSCOPETM热成像系统在TR(反射率热成像)技术的基础上,支持增加IR(红外热成像)功能。通过IR功能可以实现高达15mK的热灵敏度,方便用户在更大视野范围的宏观领域,以进行更低功率量级的热点探测,进而再使用TR功能针对上述热点进行更高空间分辨率下的更细致的分析。

    5、 SanjSCOPETM热成像系统的研发者Dr. Ali Shakouri毕业于美国加州理工大学,目前任职普渡大学Birck纳米技术中心的主任,是公认的纳米技术领域的权威。

     

     

     

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