中国空间技术研究院元器件可靠性中心成功的选择---- T3ster热测试仪
日期：2010-06-25
2008年，中国空间技术研究院元器件可靠性中心购买了一台热阻测试仪T3ster, 并很快投入使用。两年以来， T3ster在各种元器件尤其是测量难点的大功率半导体器件的热阻测量和器件筛选等方面取得了卓越成绩，对该院的器件可靠性研究和测量等起到了非常重要的作用，保障了多个重大科研项目的成功。
欲了解更多T3ster的信息，请点击以下链接：
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沪公网安备 31010602003953号