飞利浦照明上海研发中心采购T3ster热测试仪
日期：2010-06-25
2010年1月，飞利浦照明上海研发中心确定购买T3ster热测试仪，这是飞利浦照明继荷兰和美国研发中心之后第三个购买T3ster热测试仪的研发中心。T3ster的投入使用大大有利于其解决大功率LED热阻测量方面的难题。T3Ster运用先进的JEDEC稳态实时测试方法，不仅可以测试LED的导热参数、接触热阻等热特性，而且配合专为LED产业开发的选配件TERALED可以实现LED器件和组件的光热一体化测量。
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沪公网安备 31010602003953号