JEDEC最近颁布了由T3Ster研发团队提交的第一个针对大功率LED热测试的国际标准，此项标准详细规定了在LED规格书、测试环境以及测试步骤等方面的热测试信息。

总部设在弗吉尼亚州阿灵顿的标准化组织JEDEC固态技术协会，日前宣布其发布了一系列高亮度大功率LED测试的新标准。 JEDEC JC-15委员会内LED产业的领导者定义了JESD51-5X系列新标准，旨在测量大功率LED的热特性。JESD51-50，JESD51-51，JESD51-52和JESD51-53这四个标准，符合国际照明（CIE）的现行LED测试标准。

在通用的照明行业应用中，散热设计至关重要，以确保LED的预期寿命和光输出。至目前为止，由于缺乏广为接受的LED热测试标准，因此公布的规格书信息经常遭受质疑。固态照明协会在很大程度上依赖JEDEC标准来定义环境应力，机械应力和LED器件的LED封装工艺程序。总之，需要更为详细的规格书和测试步骤信息来解决这一现状。

专为LED制造商和LED集成商（在基底上组装LED器件）制定的JEDEC51-5X系列标准，详细规定了在LED规格书、大功率LED测试环境以及测试步骤等方面的热测试信息。此方法可消除以往对LED封装和金属芯印刷电路板（MCPCB）LED组装器件传热特性的不确定性。

JEDEC总裁约翰·凯利指出，“LED热测试需要明确的指导方针，JESD51-50，51，52和53标准的发布是LED行业领导者和JEDEC JC-15委员会快速反应的结果。 JEDEC很高兴能为制造商的测试需求提供一个全面综合的解决方案。”

关于T3Ster

T3ster运用JEDEC测试方法(JESD51-1)中先进的实时采样静态测试方法（Static Method），广泛用于测试各类IC（包括二极管、三极管、MOSFET、SOC、SIP、MEMS等）、大功率LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。配合专为LED产业开发的选配件TERALED可以实现LED器件和组件的光热一体化测量。

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