2014年3月9日至13日，第30届半导体热测试、建模及管理专题讨论会 (SEMI-THERM)在美国加州圣何塞双树酒店举行。在此次会议上，Microsanj的联合创始人兼技术顾问委员会主席Ali Shakouri^【1】博士，作为Microsanj反射率热成像系统的主要研发者，获得了SEMI-THERM^【2】论坛授予的THERMI^【3】大奖，以表彰他个人以及Mcirosanj反射率热成像仪系统在半导体器件及系统热性能研究方面所做出的贡献。 

         “能得到SEMI-THERM的肯定，我感到非常的荣幸，感谢Birck纳米技术中心^【4】的学生，博士后研究员，以及Microsanj公司的同事们的帮助与支持。
                                                                              —— Microsanj 首席执行官Shakouri博士

【1】 Shakouri博士 ——Shakouri博士于1995年获得了加州理工大学博士学位，是纳米技术领域公认的领导者。目前他的研究主要集中在半导体器件中纳米级热和电流传输，高分辨率热成像、微型制冷器和余热回收等领域。2007年，为了开发和商业化用于半导体工业的先进的高分辨率热成像系统，Shakouri博士创办了Microsanj公司，并担任Microsanj公司的技术顾问委员会主席，此外，Shakouri博士还是普渡大学电子计算机工程教授及布瑞克纳米技术研究中心主任。

【2】 SEMI-THERM —— SEMI-THERM是一个专注于电子元器件及系统特性及热管理的国际论坛。它涵盖了从集成电路到设备所有关于热的知识。SEMI-THERM专题讨论会旨在促进在热设计领域的工程师、 专业人士和行业领先专家之间的知识交流，分享最新的学术信息和探讨工业电子热管理的发展。

【3】 THERMI奖 ——SEMI-THERM每年都会颁发THERMI奖给一名在半导体热管理领域做出卓越贡献的人。

【4】 Birck纳米技术研究中心 —— 美国普渡大学布瑞克纳米技术研究中心利用其在纳米科学工程学方面的技术优势研究成功的创新型纳米技术有效解决了在计算，通信，环境，安全，能源自给和健康方面所面临的社会性挑战。该中心还致力于引入最先进的纳米级仪器来加速发展纳米技术，以此为解决生命科学和物理科学的基本问题寻求答案。探究这两大互补性技术领域将大大加深我们对该学科环境的整体理解，从而使我们在21世纪获得更好的发展。

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