MICROSANJ公司工程副总裁Dustin Kendig荣获2014年IRIC最佳创新奖
日期：2014-03-24
近日，Microsanj 公司的工程副总裁Dustin Kendig，凭借其《热成像技术的可靠性测试》的演讲，获得了2014年IEEE国际可靠性创新会议（IRIC）的最佳创新奖。该演讲不仅讨论了瞬态反射率热成像技术，同时还列举了许多例子，以说明这项创新技术在微电子热设计验证、 可靠性测试和故障分析的可用性。
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